應用范圍
ZEISS METROTOM 是一種用于測量和檢驗塑料或輕金屬部件的工業(yè)計算機斷層掃描測量系統。而在利用傳統測量機測量時(shí)，此類(lèi)隱藏性的結構信息只有將零件通過(guò)費時(shí)的層層破壞方能獲得。
融合了計量學(xué)和斷層X(jué)射線(xiàn)攝影，測量技術(shù)的新革命！
儀器參數/儀器型號 METROTOM 800 METROTOM 1500
測量范圍（mm） 直徑150*170 直徑170*150 直徑350*300
分辨率（μm） 3.5-6
射線(xiàn)管類(lèi)型 密閉式微焦點(diǎn)射線(xiàn)管 開(kāi)放式X射線(xiàn)技術(shù)
射線(xiàn)管，管功率 130Kv，39W 225Kv，500W
探測器分辨率 1536*1920 1024*1024 2048*2048
放射源-探測器距離（mm） 800 800 1500
軟件 CALYPSO
殼體材料 聚合物混凝土 鉛
用途 測量實(shí)驗室